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电子元件加速寿命试验

电子元件加速寿命试验

1 概述 当今,许多产品都能在极端严酷的环境应力下无故障地运转上千小时,为了确认设计缺陷或者验证预计的寿命,传统的试验方法已经不再胜任。人们开始研究先进的试验方法与技术。 1.1 加速试验的目的与特点 进行加速试验的目的可概括如下: 为了适应日益激...

2013-04-11

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